政美

GSS Plus

.採用非接觸式量測技術,不破壞物體表面
.搭配高精度運動控制平台,客戶可任意採用點/線/面量測法進行產品3D數據分析
.量測點距(Resolution)及數量可程式控制,而不受3D 面掃之硬體限制
.適用產品性廣,除吸光材質以外,所有產品皆適用